背景介绍近年来，随着半导体工艺演进，工艺节点不断缩小，电路复杂度持续上升，频率越来越高，传统的Scan测试方法已经难以满足对速率、覆盖率、功耗和测试时间等多个维度的要求。因此，一种新兴的高速Scan测试方案应运而生.

把可扫描的寄存器连成扫描链 如下图所示：左边是普通寄存器，右边是可扫描寄存器，D端前面加一个二选一的MUX，选择端是scan_enable，为1时选择SI端，为0时选择D端。 如下图所示：把所有可扫描寄存器首尾连接在一起，就构成了扫描链。注意，增加了三个端口 ...